LST体微缺陷测试设备

产品简介
LST是检测半导体材料的体微缺陷有力工具，通过CCD相机，对入射光在样品边沿的散射进行扫描，获得体微缺陷分布信息。

产品型号：

更新时间：2025-11-28

厂商性质：生产厂家

访问量：1394

产品咨询 18117546256

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

半导体材料测试

体微缺陷测试霍尔电阻迁移率光伏光致发光深能级瞬态谱测试椭偏拉曼AFM 半导体多功能测试 CV测试系统集成测试仪器租赁

详细介绍在线留言

Capability:

物镜自动调节
纳米级移动
对缺陷浓度和尺寸更加灵敏
测试尺寸:20nm到15nm
缺陷浓度:1e5-2.5e10cm^–³

优米电竞官网首页登录网址是什么主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼优米体育app、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展，优米电竞官网首页登录网址是什么在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度，客户遍布全国。我们将继续努力，不断提升市场地位和影响力。

上一个：LEIModel1605非接触迁移率测试系统