PSM-LN2系列液氮高低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-800K高低温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

PSM-4K系列低温探针台是一款闭循环低温探针台，紧凑型及低振动的设计，能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个＜5K-350K高低温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成材料/器件的IV、CV、光学以及微波等参数检测，实现低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

广泛用于图象表征各种热转变过程，能够直接用于观察样品在加热或冷却过程中的形态变化以及结晶过程中形状、结构、颜色以及大小和数量的变化